|
%0 Conference Paper %A M. Simicic %A S. Morrison %A B. Parvais %A P. Weckx %A B. Kaczer %A K. Sawada %A H. Ammo %A S. Yamakawa %A K. Nomoto %A M. Ohno %A D. Linten %A D. Verkest %A P. Wambacq %A G. Groeseneken %A G. Gielen %T A fully-integrated method for RTN parameter extraction %B Symposium on VLSI Technology %I Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc %8 Jul. 2017
|
