|
%0 Conference Paper %A P. Weckx %A M. Simicic %A K. Nomoto %A M. Ono %A B. Parvais %A B. Kaczer %A P. Raghavan %A D. Linten %A K. Sawada %A H. Ammo %A S. Yamakawa %A A. Spessot %A D. Verkest %A A. Mocuta %T Defect-based compact modeling for RTN and BTI variability %B International reliability symposium %I Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc %8 May. 2017
|
